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微粒分析儀通過SPOS技術測得粒徑分布

 更新時間:2017-11-06 點擊量:1385
經過光感區域的粒子由於大小不同,光強隨之產生相應的變化。將微粒分析儀探測器收集的光信號轉換成電壓信號,不同的電壓信號對應不同的粒徑大小,從而得到微粒的粒徑。SPOS技術將光消減和光散射兩種物理作用有機的結合起來,通過光消減獲得較大的動態粒徑範圍,通過光散射增加對小粒子的靈敏度,成為一項技術。

通過先進的SPOS技術檢測得到真實的粒徑分布:
微粒的入口較大,不會產生堵塞。
不會產生隔離作用,使用的樣品都能經過傳感區域。
沒有複雜的去卷積運算,隻使用簡單的統計學方法將微分和積分的數量-粒徑數據分別轉換為顆粒數、麵積和體積的分布,在分布情況中不作任何的假設,全都是由數量-粒徑的原始數據得到的。
能夠按照實際需要將測量結果劃分為8-512條數據通道,提高了分辨率。
集自動取樣、自動稀釋、自動檢測、數據處理以及自動清洗等自動化功能於一身。為用戶提供了方便、快捷、、可靠的粒徑分析。
測量結果可以保存為ASCII格式,以文本方式打開並查看數據。
圖譜疊加功能,可將所選文件互相疊加,進行對比,查看結果。

微粒分析儀集光學、電路、樣品池、超聲波分散、攪拌循環、全自動清洗一體化,電腦控製下自動對中。樣品在管道內流動的時間短,避免了樣品分散後的分層和重新團聚。重複性、穩定性達到國外同類儀器測量水平。
可預置*測試模式:針對各種不同的樣品,可預置不同的*測試參數組合(包括折射率、粒度分布模式、濃度、超聲時間、采樣時間、循環速率、清洗時間等),使用戶能方便地獲得zui可靠、高再現性的測試結果。
特別采取了防震、防塵、防潮設計,便於運輸和在惡劣環境下工作。
采用先進的成型工藝,使儀器的結構緊湊合理,即測量單元和進樣係統渾然一體,外形美觀大方,使用維護方便;采用的抗幹擾技術,使儀器的電氣穩定性更好,故障率更低。
采用串行數據傳輸方式,可以方便地與各種筆記本電腦、台式電腦連接組成粒度測試係統,*告別了傳統的板卡連接方式。
*設計的具有80個探測器的光電探測器陣列,使儀器的分辨率更高;
測試軟件界麵友好、操作簡便,您隻需按下“自動測試”鍵,然後根據提示在儀器樣品池中投入被測樣品,全部測量過程(包括測量參數選定、對中、背景測量、濃度調整、信號采樣、數據分析、給出報告、進樣係統清洗等)電腦控製下自動完成,輸出測試報告。具有結果存儲、查詢、比較、編輯、刪除等功能。